金相試樣的制備主要包括取樣及磨制,取樣的部位應(yīng)具備代表性和典型性。
1. 金相試樣的選取
(1) 縱向取樣 指的是沿鋼材或鍛坯的軋、鍛方向進(jìn)行取樣,主要檢驗(yàn)內(nèi)容有:非金屬夾
雜物、帶狀、熱處理的全面情況、塑性變形程度等。
(2) 橫向取樣 指的是垂直于鋼材或鍛坯的軋、鍛方向進(jìn)行取樣。主要檢驗(yàn)內(nèi)容有:金屬
材料由表及里的組織、顯微組織狀態(tài)、晶粒度、碳化物、表層缺陷深度、氧化脫碳層深度、腐蝕層深度、表面化學(xué)熱處理及鍍層等
(3) 缺陷或失效件取樣 截取缺陷分析的試樣應(yīng)包括零件的缺陷部分在內(nèi),取樣時(shí)應(yīng)注意
不能使缺陷在磨制時(shí)被損傷甚至消失。
試樣可用手鋸、砂輪切割機(jī)、顯微切割機(jī)、化學(xué)切割機(jī)、線切割機(jī)、剪切、鋸、刨、磨等截取,也可用氣割法截取,硬而脆的金屬可用錘擊法取樣。無(wú)論用何法切割均應(yīng)注意不能使試樣由于變形或過(guò)熱導(dǎo)致組織發(fā)生變化,對(duì)有熱影響的試樣必須去除熱影響部分。
試樣尺寸以磨面面積小于40m㎡、高度15~20為宜。
2.金相試樣的鑲嵌
在金相試樣的制備過(guò)程中,有許多試樣直接磨拋有困難,所以應(yīng)進(jìn)行鑲嵌,通常進(jìn)行鑲嵌的試樣有:形狀不規(guī)則試件、線材及板材、細(xì)小工件、表面處理和滲層、鍍層、表面脫碳層的材料等。
樣品鑲嵌的常用方法有:機(jī)械鑲嵌法、樹(shù)脂鑲嵌法 3.金相試樣的磨制
金相試樣經(jīng)切割或鑲嵌后,需要進(jìn)行一系列的研磨工作,才能得到光亮的磨面,研磨的過(guò)程包括磨平、磨光、拋光三個(gè)步驟:
(1)磨平 試樣截取后,一般在砂輪上進(jìn)行粗磨,并注意冷卻,防止組織變化
(2)磨光 試樣粗磨后雖表面平整,但存在深劃痕及變形層,需要通過(guò)從粗到細(xì)的水砂紙和金相砂紙上細(xì)磨,用水砂紙、金相砂紙手工磨樣時(shí),砂紙應(yīng)無(wú)雜質(zhì)附著并放在玻璃板上,每更換一道砂紙?jiān)嚇有D(zhuǎn)90°,并使前一道砂紙的磨痕*去除。
(3)拋光 拋光的目的是去除金相試樣上的細(xì)微磨痕及表層變形層,得到光滑鏡面。 常用的拋光方法有:機(jī)械拋光、電解拋光
機(jī)械拋光使用的主要設(shè)備是拋光機(jī),拋光操作時(shí)對(duì)試樣所施加的壓力要均衡,且應(yīng)先重后輕。機(jī)械拋光是我們使用的方法,可分為粗拋和細(xì)拋,粗拋是將經(jīng)砂紙磨光的試樣移至裝有尼綸、尼絨或細(xì)帆布、金絲絨等的拋光機(jī)上粗拋光,拋光料可用金剛石研磨膏或噴霧劑等,拋光時(shí)間約2-5分鐘。拋光后用水洗凈并吹干。細(xì)拋光是將經(jīng)粗拋的試樣移到裝有尼龍綢、天鵝絨、金絲絨等的細(xì)勻拋光盤(pán)上進(jìn)行精拋光,拋光料可用細(xì)拋光 粉、細(xì)金剛石研磨膏、細(xì)噴霧劑或清水。拋光時(shí)用力要輕,須從盤(pán)的中心至邊緣來(lái)回拋光,并不時(shí)滴加少許拋光料或清水,絨布的濕度以將試樣從盤(pán)取下觀察時(shí)表面水膜在2-3秒內(nèi)*蒸發(fā)消失為宜,在拋光的完成階段可將試樣與拋光盤(pán)的轉(zhuǎn)動(dòng)方向成相反方向拋光,一般拋光到試樣的磨痕*除去,表面象鏡面為止。拋光后用清水洗凈吹干,使表面不致有水跡或污物殘留。 拋光時(shí)可將磨制的劃痕與拋光方向垂直,以提高拋光速度。
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